8ème workshop des utilisateurs francophones ToF-SIMS (ION TOF)

Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-SIMS)

Le département « Material Research and Technology » (MRT) du « Luxembourg Institute of Science and Technology » (LIST), en collaboration avec ses partenaires, ION TOF, la Société Française de Spectrométrie de Masse (SFSM) ainsi que la Société Française du Vide (SFV) ont le plaisir de vous inviter au huitième workshop des utilisateurs francophones ToF-SIMS (ION-TOF) qui se tiendra à Belval du 15 au 16 mars 2018.

>> Pour plus d'informations, merci d'envoyer un email à event@list.lu.

Programme

>> Consultez le programme provisoire du workshop ToF-SIMS (ION-TOF) (216 KB)

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Practical Infos

Dates : jeudi 15 et vendredi 16 mars 2018

Lieu : Belval

Tarif : gratuit

Contact : event@list.lu

Contact

Dr Marc ANGOTTI
Dr Marc ANGOTTI
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 Gilles FRACHE
Gilles FRACHE
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Documentation