ToF-SIMS ou quand la surface d’un échantillon est passée au crible

Dans le cadre de ses activités dans le domaine des matériaux, le Luxembourg Institute of Science and Technology (LIST) a organisé les 15 et 16 mars 2018, la «8ème réunion des utilisateurs francophones ToF-SIMS ION TOF» en partenariat avec la Société Française de Spectrométrie de Masse (SFSM) et la Société Française du Vide (SFV) au Belval Innovation Campus.

Ce séminaire, qui a lieu chaque année depuis 2011, a réuni plus d’une trentaine de participants européens souhaitant discuter de la technique de spectrométrie de masse d’ions secondaires à temps de vol (ToF-SIMS, abréviation de « Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ») dans le cadre de leurs activités de recherche et de développement.

Qu’est ce que le TOF-SIMS ?

Le ToF-SIMS est une technique analytique qui permet de récolter des informations moléculaires et élémentaires sur les espèces présentes à la surface d’un échantillon. Le principe consiste à accélérer des ions primaires vers la surface à analyser via un faisceau pulsé d’ions primaires afin de produire des ions secondaires issus de la surface de l’échantillon, qui pourront ensuite être analysés en masse, dans une chambre sous ultra-haut vide (pression résiduelle très basse de type vide interstellaire).

Retour sur la 8ème rencontre des utilisateurs

Au cours de cet événement mené par Gilles FRACHE, chercheur LIST responsable des activitiés en analyses moléculaires, et par Anouk GALTAYRIES, enseignant-chercheur à l’Institut de Recherche de Chimie Paris à Chimie ParisTech (ENSCP), les participants ont pu assister à de nombreuses interventions de qualité, notamment celles des conférenciers invités Ian GILMORE, NPL (UK) pour « the 3D orbiSIMS : A new world of high resolution with spatial resolution » et Alain BRUNELLE, CNRS (FR) pour « de la biologie au patrimoine avec l’imagerie ToF-SIMS » ; et échanger sur les utilisations multiples permises par la technique ToF-SIMS comme par exemple :

• L'analyse isotopique par ToF-SIMS pour l'identification de l'origine de la corrosion de sulfures métalliques,
• L’étude de structure-performance, du vieillissement et des défaillances dans des dispositifs photoniques hybrides par profilage ToF-SIMS,
• Ou encore, l’analyse TOF-SIMS pour les structures 3D de la micro et optoélectronique.

Focus sur le laboratoire d'analyse moléculaire du LIST

Les participants ont également eu l’opportunité de visiter les locaux du LIST à Belvaux, et d’y découvrir son laboratoire d'analyse moléculaire où la technologie ToF-SIMS est utilisée. Avec la capacité d'aborder des sujets liés à la détection ou la localisation de petites (bio) molécules, de résines, ou même des polymères de haut poids moléculaire, le laboratoire d'analyses moléculaires offre des développements analytiques dans un très large éventail d'applications. Ces derniers comprennent notamment les analyses de défauts, le contrôle des processus de production / de synthèse, ainsi que l'imagerie des tissus biologiques. Plus d’informations sur les équipements du LIST. 

La réunion s’est terminée avec la présentation de deux projets d’événements liés au SIMS, la 10ème réunion des utilisateurs ToF-SIMS qui valorisera les jeunes doctorants des premières réunions devenus jeunes chercheurs en poste dans le monde; et la candidature française à la conférence internationale SIMS-24 qui se tiendra en 2023.

>> Pour plus d’informations sur les activités du LIST en matière de ToF-SIMS, merci de contacter gilles.frache@list.lu et pour plus d’informations sur les prochaines réunions utilisateurs ToF-SIMS ION TOF, merci de contacter anouk.galtayries@chimieparistech.psl.eu

>> Pour plus d’informations sur les partenaires de la réunion, merci de consulter leur pages ici : société ION TOF, SFV, société membre de l’IUVSTA, SFSM, société membre de l’IMSS.

Retour en images sur l'événement :