Magnetic Sector Secondary Ion Mass Spectrometry on FIB-SEM Instruments for Nanoscale Chemical Imaging
Auteurs :
De Castro O., Audinot J.N., Hoang H.Q., Coulbary C., Bouton O., Barrahma R., Ost A., Stoffels C., Jiao C., Dutka M., Geryk M., Wirtz T.
Référence :
Analytical Chemistry, vol. 94, n° 30, pp. 10754-10763, 2022
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