Publications scientifiques

Retrouvez les principales publications scientifiques récentes du Luxembourg Institute of Science and Technology

Les publications scientifiques des CRPs Henri Tudor et Gabriel Lippmann publiées avant la création du LIST sont disponibles en ligne : télécharger le PDF du CRP Henri Tudor (910Ko) et le PDF du CRP - Gabriel Lippmann (1,3Ko).

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Strain-induced deformation mechanisms of polylactide plasticized with acrylated poly(ethylene glycol) obtained by reactive extrusion

Auteurs : K. Wang, B. Brüster, F. Addiego, G. Kfoury, F. Hassouna, D. Ruch, J. M. Raquez, and P. Dubois

Référence : Polymer International, vol. 64, no. 11, pp. 1544-1554, 2015

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Multiple bifurcations in wrinkling analysis of thin films on compliant substrates

Auteurs : F. Xu, M. Potier-Ferry, S. Belouettar, and H. Hu

Référence : International Journal of Non-Linear Mechanics, vol. 76, pp. 203-222, 2015

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Thermo-anisotropic crack propagation by XFEM

Auteurs : L. Bouhala, A. Makradi, and S. Belouettar

Référence : International Journal of Mechanical Sciences, vol. 103, pp. 235-246, 2015

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test lun

Auteurs : test lun

Référence : test lun

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In situ phenotypic heterogeneity among single cells of the filamentous bacterium Candidatus Microthrix parvicella

Auteurs : A. R. Sheik, E. E. Muller, J. N. Audinot, L. A. Lebrun, P. Grysan, C. Guignard, and P. Wilmes

Référence : The ISME Journal, vol. 10, pp. 1274–1279, 2015

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Investigation of the depth-profiling capabilities of the Storing Matter technique

Auteurs : B. Kasel and T. Wirtz

Référence : Journal of Mass Spectrometry, vol. 50, no. 10, pp. 1144-1149, 2015

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Unraveling the architecture of plasma polymers by electrospray tandem mass spectrometry

Auteurs : T. Fouquet

Référence : International Journal of Mass Spectrometry, vol. 389, pp. 1-9, 2015

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High-resolution high-sensitivity elemental imaging by secondary ion mass spectrometry: from traditional 2D and 3D imaging to correlative microscopy

Auteurs : T. Wirtz, P. Philipp, J. N. Audinot, D. Dowsett, and S. Eswara

Référence : Nanotechnology, vol. 26, no. 43, art. no. 434001, 2015

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Advanced SIMION techniques: Boundary matching and genetic optimization

Auteurs : D. Dowsett

Référence : Microscopy and Microanalysis, vol. 21, no. S4, pp. 218-223, 2015

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Silver diffusion in organic optoelectronic devices: Deposition-related processes versus Secondary Ion Mass Spectrometry analysis artifacts

Auteurs : P. Philipp, K. Q. Ngo, J. Kieffer, and T. Wirtz

Référence : The Journal of Physical Chemistry C, vol. 119, no. 41, pp. 23334-23341, 2015

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Significant enhancement of negative secondary ion yields by cluster ion bombardment combined with cesium flooding

Auteurs : P. Philipp, T. B. Angerer, S. Sämfors, P. Blenkinsopp, J. S. Fletcher, and T. Wirtz

Référence : Analytical Chemistry, vol. 87, no. 19, pp. 10025–10032, 2015

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Higher-order hierarchical models for the free vibration analysis of thin-walled beams

Auteurs : G. Giunta, and S. Belouettar

Référence : Mathematical Problems in Engineering, vol. 2015, Art. ID 940347, 12 p., 2015

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